Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции
- Авторы: Астафьев С.Б.1, Янусова Л.Г.1
-
Учреждения:
- Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”
- Выпуск: Том 69, № 3 (2024)
- Страницы: 505-510
- Раздел: ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
- URL: https://ter-arkhiv.ru/0023-4761/article/view/673191
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476124030163
- EDN: https://elibrary.ru/XOAVGD
- ID: 673191
Цитировать
Аннотация
Предложен метод поиска параметров структурных моделей слабоупорядоченных тонких пленок по данным рентгеновской дифракции, содержащих небольшое количество рефлексов. Разработанный метод позволяет сузить количество возможных структурных моделей, несмотря на малое число интерференционных максимумов, определить параметры возможных элементарных ячеек и проиндексировать соответствующие пики на дифрактограммах. Показано, как привлечение априорных данных позволяет получить физически адекватные решения. Методика определения структурных параметров продемонстрирована на примере анализа экспериментальной кривой, содержащей всего три дифракционных пика (максимума). Соответствующие алгоритмы поиска реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of xRay Diffraction).
Полный текст

Об авторах
С. Б. Астафьев
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”
Автор, ответственный за переписку.
Email: serge@crys.ras.ru
Россия, Москва
Л. Г. Янусова
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”
Email: serge@crys.ras.ru
Россия, Москва
Список литературы
- Rietveld H. // J. Appl. Cryst. 1969. V. 2. P. 65. http://doi.org/10.1107/S0021889869006558
- Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2022. Т. 67. № 3. С. 491. http://doi.org/10.31857/S0023476122030031
- Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 141.
- Maiorova L., Konovalov O., Yanusova L. et al. // International Conference on Porphyrins and Phthalocyanines (ICPP-11) 28.06–3.07.2021. USA. Book of Abstracts. P. 277. http://doi.org/10.13140/RG.2.2.29250.91846
- Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. М.: Наука–Физматлит, 2007. 416 с.
Дополнительные файлы
