Определение структуры слабоупорядоченных пленок по данным рентгеновской дифракции

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Предложен метод поиска параметров структурных моделей слабоупорядоченных тонких пленок по данным рентгеновской дифракции, содержащих небольшое количество рефлексов. Разработанный метод позволяет сузить количество возможных структурных моделей, несмотря на малое число интерференционных максимумов, определить параметры возможных элементарных ячеек и проиндексировать соответствующие пики на дифрактограммах. Показано, как привлечение априорных данных позволяет получить физически адекватные решения. Методика определения структурных параметров продемонстрирована на примере анализа экспериментальной кривой, содержащей всего три дифракционных пика (максимума). Соответствующие алгоритмы поиска реализованы в рамках аналитического программного комплекса BARD (Basic Analisys of xRay Diffraction).

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

С. Б. Астафьев

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”

Автор, ответственный за переписку.
Email: serge@crys.ras.ru
Россия, Москва

Л. Г. Янусова

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники НИЦ “Курчатовский институт”

Email: serge@crys.ras.ru
Россия, Москва

Список литературы

  1. Rietveld H. // J. Appl. Cryst. 1969. V. 2. P. 65. http://doi.org/10.1107/S0021889869006558
  2. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2022. Т. 67. № 3. С. 491. http://doi.org/10.31857/S0023476122030031
  3. Астафьев С.Б., Янусова Л.Г. // Кристаллография. 2012. Т. 57. № 1. С. 141.
  4. Maiorova L., Konovalov O., Yanusova L. et al. // International Conference on Porphyrins and Phthalocyanines (ICPP-11) 28.06–3.07.2021. USA. Book of Abstracts. P. 277. http://doi.org/10.13140/RG.2.2.29250.91846
  5. Гусев А.И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. М.: Наука–Физматлит, 2007. 416 с.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Экспериментальная дифрактограмма (сплошная линия) от слабоупорядоченной пленки и смоделированные дифракционные кривые (пунктирные линии), соответствующие вариантам 1 (а), 2 (б), 3 (в), 4 (г) элементарных ячеек в структурированных агрегатах с параметрами {a, b, c, α, β, γ} (табл. 1), найденными приближением модельных кривых к экспериментальной.

Скачать (206KB)

© Российская академия наук, 2024