РЕЗОНАНСНЫЕ ВОЛНОВОДНЫЕ ПОТЕРИ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ В СЛОЕ ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА, ОГРАНИЧЕННОГО ITO-ЭЛЕКТРОДАМИ
- Авторы: Палто С.П1, Рыбаков Д.О1, Гейвандов А.Р1, Касьянова И.В1
-
Учреждения:
- Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова, Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники, НИЦ «Курчатовский институт»
- Выпуск: Том 167, № 1 (2025)
- Страницы: 141-147
- Раздел: СТАТИСТИЧЕСКАЯ И НЕЛИНЕЙНАЯ ФИЗИКА, ФИЗИКА "МЯГКОЙ" МАТЕРИИ
- URL: https://ter-arkhiv.ru/0044-4510/article/view/683900
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044451025010122
- ID: 683900
Цитировать
Аннотация
В планарно-ориентированном слое нематического жидкого кристалла (ЖК) с люминесцентным красителем исследованы спектры люминесценции, возникающей при лазерном возбуждении молекул красителя и распространяющейся в волноводном режиме. Показано, что наличие ITO-электродов, ограничивающих слой ЖК, приводит к существенным резонансным потерям энергии излучения. Эти потери объясняются фазовым синхронизмом между волноводными модами в слое ЖК и ITO-электродах. Спектральное положение максимумов потерь зависит от состояния поляризации света, а их интенсивность растет с уменьшением толщины слоя ЖК. Показано, что использование ориентирующих ЖК-слоев на основе фторированных полимеров с низким показателем преломления, нанесенных на ITO-электроды, позволяет существенно подавить резонансные потери излучения.
Об авторах
С. П Палто
Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова, Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники, НИЦ «Курчатовский институт»
Email: serguei.palto@gmail.com
Москва, Россия
Д. О Рыбаков
Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова, Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники, НИЦ «Курчатовский институт»Москва, Россия
А. Р Гейвандов
Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова, Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники, НИЦ «Курчатовский институт»Москва, Россия
И. В Касьянова
Институт кристаллографии им. А. В.Шубникова, Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники, НИЦ «Курчатовский институт»Москва, Россия
Список литературы
- П. В. Долганов, В. К. Долганов, Письма в ЖЭТФ 108, 170 (2018).
- П. В. Долганов, Письма в ЖЭТФ 105, 616 (2017).
- И. П. Ильчишин, Е. А. Тихонов, В. Г. Тищенко и др., Письма в ЖЭТФ 32, 27 (1980)
- W. Cao, A. Munos, P. Palffy-Muhoray et al., Nature Mater. 1, 111 (2002).
- A. Chanishvili, G. Chilaya, G. Petriashvili et al., Appl. Phys. Lett. 86, 051107 (2005).
- J. Ortega, C. L. Folcia, and J. Etxebarria, Materials 11, 5 (2018).
- S. P. Palto, N. M. Shtykov, B. A. Umanskii et al., J. Appl. Phys. 112, 013105 (2012).
- T. Matsui, M. Ozaki, and K. Yoshino, in Proc. SPIE 5518, Liquid Crystals VIII (2004).
- Y. Inoue, H. Yoshida, K. Inoue et al., Appl. Phys. Express 3, 102702 (2010).
- H. Yunxi, Z. Xiaojuan, Y. Benli et al., Nanophotonics 10, 3541 (2021).
- Н. М. Штыков, С. П. Палто, Б. А. Уманский и др., Кристаллография 64, 275 (2019).
- N. M. Shtykov, S. P. Palto, A. R. Geivandov et al., Opt. Lett. 45, 4328 (2020).
- S. P. Palto and A. R. Geivandov, Photonics 10, 1089 (2023).
- J. Li, C.-H. Wen, S. Gauza et al., J. of Display Technol. 1, 52 (2005).
Дополнительные файлы
