Стимулированное электронным пучком образование люминесцентных углеродных комплексов в гексагональном нитриде бора
- Authors: Петров Ю.В.1, Вывенко О.Ф.1, Гогина О.А.1, Ковальчук С.2, Болотин К.2
-
Affiliations:
- Санкт-Петербургский государственный университет
- Свободный университет Берлина
- Issue: Vol 69, No 1 (2024)
- Pages: 65-70
- Section: ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
- URL: https://ter-arkhiv.ru/0023-4761/article/view/673229
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476124010094
- EDN: https://elibrary.ru/syihyy
- ID: 673229
Cite item
Abstract
Исследовано изменение интенсивности катодолюминесценции гексагонального нитрида бора в коротковолновой части спектра в процессе возбуждения электронным пучком. Показано, что интенсивность пика на длине волны 215 нм, связываемого с переходами зона–зона, убывает в процессе возбуждения электронами и стремится к стационарному значению, в то время как интенсивность пика на длине волны 320 нм возрастает под действием электронного облучения. Эта полоса, вероятно, обусловлена образованием центров люминесценции под действием электронного облучения.
Full Text

About the authors
Ю. В. Петров
Санкт-Петербургский государственный университет
Author for correspondence.
Email: y.petrov@spbu.ru
Russian Federation, г. Санкт-Петербург
О. Ф. Вывенко
Санкт-Петербургский государственный университет
Email: y.petrov@spbu.ru
Russian Federation, г. Санкт-Петербург
О. А. Гогина
Санкт-Петербургский государственный университет
Email: y.petrov@spbu.ru
Russian Federation, г. Санкт-Петербург
С. Ковальчук
Свободный университет Берлина
Email: y.petrov@spbu.ru
Germany, г. Берлин
К. Болотин
Свободный университет Берлина
Email: y.petrov@spbu.ru
Germany, г. Берлин
References
- Aharonovich I., Englund D., Toth M. // Nature Photonics. 2016. V. 10. № 10. Р. 631. https://doi.org/10.1038/NPHOTON.2016.186
- Bourrellier R., Meuret S., Tararan A. et al. // Nano Lett. 2016. V. 16. № 7. P. 4317. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.6b01368
- Cassabois G., Valvin P., Gil B. // Nature Photonics. 2016. V. 10. № 4. P. 262. https://doi.org/10.1038/nphoton.2015.277
- Chejanovsky N., Rezai M., Paolucci F. et al. // Nano Lett. 2016. V. 16. № 11. P. 7037. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.6b03268
- Ziegler J., Klaiss R., Blaikie A. et al. // Nano Lett. 2019. V. 19. № 3. P. 2121. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.9b00357
- Петров Ю.В., Гогина О.А., Вывенко О.Ф. и др. // ЖТФ. 2022. Т. 92 № . 8. P. 1166. https://doi.org/10.21883/JTF.2022.08.52778.66-22
- Grosso G., Moon H., Lienhard B. et al.// Nature Commun. 2017. V. 8. № 1. P. 1. https://doi.org/10.1038/s41467-017-00810-2
- Guo N.J., Liu W., Li Z.P. et al. // ACS Omega. 2022. V. 7. № 2. P. 1733. https://doi.org/10.1021/acsomega.1c04564.
- Choi S., Tran T.T., Elbadawi C. et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2016. V. 8. № 43. P. 29642. https://doi.org/10.1021/acsami.6b09875
- BiancoF., Corte E., Tchernij S.D. et al. // Nanomaterials. 2023. V. 13. № 4. P. 739. https://doi.org/10.3390/nano13040739
- Petrov Yu.V., Vyvenko O.F., Gogina O.A. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2021. V. 2103. № 1. P. 012065. https://doi.org/10.1088/1742-6596/2103/1/012065
- Turiansky M.E., Alkauskas A., Bassett L.C., Van de Walle C.G. // Phys. Rev. Lett. 2019. V. 123. № 12. P. 127401. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.123.127401
- Tran T.T., Bray K., Ford M.J. et al. // Nature Nanotechnol. 2016. V. 11. № 1. P. 37. https://doi.org/10.1038/NNANO.2015.242
- Tawfik S.A., Ali S., Fronzi M. et al.// Nanoscale. 2017. V. 9. № 36. P. 13575. https://doi.org/10.1039/C7NR04270A
- Pelini T., Elias C., Page R. et al. // Phys. Rev. Mater. 2019. V. 3. № 9. P. 094001. https://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.3.094001
- Vokhmintsev A., Weinstein I., Zamyatin D. // J. Luminescence. 2019. V. 208. P. 363. https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2018.12.036
- Hara K., Liu X., Yamauchi M. et al. // Phys. Status. Solidi. C. 2011. V. 8. № 7–8. P. 2509. https://doi.org/10.1002/pssc.201001159
- Watanabe K., Taniguchi T., Kanda H. // Nature Mater. 2004. V. 3. № 6. P. 404. https://doi.org/10.1038/nmat1134
- Kimerling L.C. // Solid-State Electronics. 1978. V. 21. № 11–12. P. 1391. https://doi.org/10.1016/0038-1101(78)90215-0
Supplementary files
